수율 분석 시스템 문의하기

수율 분석 시스템(Yield Management System)

공정 데이터와 검사 결과를 통합 분석하여 불량의 근본 원인을 파악하고 수율 최적화를 실현합니다.
현장의 데이터 아키텍처와 분석 목적에 맞는 스마트 팩토리 수율 솔루션을 제안합니다.

1. 고객사 정보 (Contact Info)

회사명 *

담당자명 *

연락처 *

이메일 *

2. 분석 요구사항 및 데이터 연동 (System Scope)

핵심 데이터 소스 연동 범위 *

MES / ERP 연동
LOT 정보 및 생산 이력 데이터 통합 검사 장비(AOI/AVI) 데이터
불량 이미지 및 메타데이터 실시간 수집 전기적 테스트(EDS/Final)
웨이퍼 맵 및 Binning 데이터 분석 설비 센서(FDC)
온도, 압력 등 설비 파라미터 상관관계 분석

적용 산업 분야 * 반도체 (Front/Back-end) 디스플레이 (OLED/LCD) 2차전지 (Battery Cell/Module) 일반 전자 부품 / PCB

주요 분석 목표 * 공정 변수-수율 상관관계 분석 불량 패턴 인식 (Defect Map) 생산 이력 추적 (Traceability) 수율 예측 및 이상 감지 (AI)

3. 시스템 기능 및 분석 옵션 (Options)

고급 분석 및 시각화 옵션

고급 웨이퍼 맵 시각화
Heatmap, Stacked Map 등 시각 분석 툴 AI 자동 불량 분류 (ADC)
이미지 기반 딥러닝 불량 유형 자동 분류 SPC & 관리도 자동화
실시간 품질 관리 및 경보 시스템 빅데이터 통계 패키지
R/Python 연동 전문 통격 분석 도구

기타 문의사항 (기존 서버 환경 및 분석 데이터 용량 등)

※ 입력하신 정보는 문의하신 내용에 따라 관련 제조사 또는 공급사에 전달될 수 있습니다.