반도체 웨이퍼 프로버 문의하기

웨이퍼 프로버 시스템(Wafer Prober) 견적 요청

초정밀 스테이지와 자동 정렬 기술로 웨이퍼 칩의 전기적 성능을 전수 검사합니다.
다양한 테스트 온도 환경과 프로브 카드 사양에 최적화된 최첨단 프로빙 솔루션을 제안합니다.

1. 고객사 정보 (Contact Info)

회사명 *

담당자명 *

연락처 *

이메일 *

2. 장비 사양 및 테스트 환경 (Technical Specs)

자동화 수준 및 형태 선택 *

Full Auto Prober
카세트 로더 포함, 양산 라인 전용 Semi Auto Prober
수동 웨이퍼 로딩, 연구소 및 R&D용 Manual Prober
단순 샘플 테스트 및 미세 분석용

웨이퍼 규격 (Size) * 6인치 (150mm) 8인치 (200mm) 12인치 (300mm) 화합물 반도체 (SiC, GaN)

테스트 온도 범위 * 상온 (Ambient) 고온 전용 (~200℃) 저온/고온 겸용 (-55℃ ~ 200℃)

정렬 정밀도 (Alignment, μm)

테스터 인터페이스 방식

3. 시스템 옵션 및 측정 기능 (Options)

추가 구성 및 고정밀 옵션

저노이즈 측정 (fA급)
미세 전류 측정을 위한 차폐 및 소음 억제 고전압/고전류 테스트
전력 반도체용 절연 및 보호 설계 라이트 실드/다크 박스
광학적 간섭 차단 및 고정밀 측정 환경 고배율 현미경 및 비전
마이크로 패드 정렬 및 팁 검사용

기타 문의사항 (프로브 카드 고정 방식 및 진공 사양 등)

※ 칩 사이즈(Die Size) 및 패드 정밀도에 따른 최적의 척(Chuck) 재질과 핀압(Force) 상담이 가능합니다.