검사 프로버 시스템 문의하기

검사 프로버 시스템(Inspection Prober)

초정밀 스테이지와 비전 알고리즘을 결합하여 웨이퍼의 외관 결함과 전기적 특성을 동시에 검증합니다.
고속 전수 검사와 미세 패턴 분석에 최적화된 하이브리드 프로빙 솔루션을 제안합니다.

1. 고객사 정보 (Contact Info)

회사명 *

담당자명 *

연락처 *

이메일 *

2. 검사 및 프로빙 사양 (Technical Specs)

검사 시스템 구성 선택 *

Full Auto Inspection
카세트 로딩 및 AI 비전 기반 전수 검사 Analytical Prober
미세 결함 집중 분석 및 수동 조작 대응 Thermal Prober
고온/저온 환경에서의 전기적 특성 변화 검사

웨이퍼 규격 * 8인치 (200mm) 12인치 (300mm) 화합물(SiC, GaN) 웨이퍼

비전 분해능 (Resolution) *

스테이지 반복 정밀도 *

최대 프로빙 하중 (Kgf)

3. 시스템 옵션 및 데이터 관리 (Options)

부가 기능 및 비전 알고리즘 옵션

AI 딥러닝 불량 분류
스크래치, 이물, 패턴 결함 자동 판독 멀티 카메라 구성
상면/측면 동시 검사 및 고배율 확대 프로브 팁 자동 정렬
비전을 이용한 팁 마모도 및 위치 자동 보정 YMS 데이터 실시간 연동
수율 분석 시스템으로 검사 데이터 즉시 전송

기타 문의사항 (요구되는 측정 항목 및 클린룸 사양 등)

※ 입력하신 정보는 문의하신 내용에 따라 관련 제조사 또는 공급사에 전달될 수 있습니다.