나노 측정기 문의하기

나노 측정 시스템(Nano Metrology)

분자 및 원자 단위의 초정밀 계측을 통해 나노 소재의 특성을 완벽하게 분석합니다.
현장의 연구 목적과 시료의 특성에 최적화된 고분해능 나노 이미징 솔루션을 제안합니다.

1. 고객사 정보 (Contact Info)

회사명 *

담당자명 *

연락처 *

이메일 *

2. 측정 방식 및 기술 정보 (Technical Specs)

핵심 측정 기술 선택 *

원자현미경 (AFM)
표면 3D 형상, 거칠기, 나노 기계적 특성 주사전자현미경 (SEM)
고배율 전자빔 이미징, 성분 분석(EDS) 광학 간섭계/공초점
비접촉 고속 나노 형상 측정 엘립소미터
나노 박막 두께 및 굴절률 정밀 분석

요구 분해능 (Resolution) *

최대 시료 크기 (mm) *

스캔 영역 (Scan Range, μm)

측정 환경 대기 (Ambient Air) 고진공 (High Vacuum) 액상 (Liquid Cell) 가변 온도 제어

3. 시스템 옵션 및 편의 기능 (Options)

추가 구성 및 분석 소프트웨어 옵션

제진대 (Anti-vibration)
미세 진동 차단을 통한 측정 안정성 확보 자동화 모터 스테이지
다점 측정 및 매핑 자동화 성분 분석 (EDS/X-ray)
나노 구조의 화학적 성분 정성/정량 분석 AI 이미지 분석 소프트웨어
패턴 인식 및 데이터 자동 추출

기타 문의사항 (요구되는 측정 규격 및 설치 공간 조건 등)

※ 시료 샘플을 송부해 주시면 데모 측정을 통한 이미징 결과물과 기술 상담을 무료로 진행해 드립니다.